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Forschungsschwerpunkte

Die Arbeitsgruppe Datentechnik arbeitet schwerpunktmäßig an Methoden und Werkzeugen zur Unterstützung von Test und Diagnose integrierter Systeme sowie an Verfahren für den fehlertoleranten Entwurf und den Nachweis von Fehlertoleranzeigenschaften. Bei heutigen "Nanochips" führen extreme Parameterschwankungen und eine erhöhte Störanfälligkeit gegenüber äußeren Störeinflüssen dazu, dass der Anteil der korrekten Chips an allen gefertigten Chips (Ausbeute) kontinuierlich abnimmt. Um diese Entwicklung abzumindern, werden einerseits innovative integrierte Diagnoseverfahren benötigt, die möglichst schnell Produktionsprobleme identifizieren können. Andererseits muss ein robuster Chipentwurf Defekte und Störungen in gewissem Umfang tolerieren können. Dadurch ergeben sich aber wieder besondere Herausforderungen an die Testverfahren, die zum Aussortieren nicht funktionsfähiger Chips benötigt werden.

Test robuster Systeme

Beim Test robuster Systme genügt es nicht mehr, zu entscheiden, ob ein Chip korrekt funktioniert oder nicht, sondern es muss festgestellt werden, wie robust das System noch gegenüber Störungen während des Betriebs ist ("Quality binning").

Faster-than-at-speed Test

Kleine Verzögerungsfehler wirken sich nicht auf die Schaltungsfunktion aus, können aber Indikatoren für mögliche Frühausfälle des Systems sein. Wenn sich die Fehler nicht über hinreichend lange Pfade propagieren lassen, muss der Test mit erhöhter Taktfrequenz durchgeführt werden. Dadurch wird jedoch die Auswertung der Testantworten erschwert, da an den Endpunkten von langen Pfaden, die Ergebnisse noch nicht eingeschwungen sind. Die Arbeiten konzentrieren sich hier auf Methoden zur Auswahl optimaler Frequenzen und auf die Komptaktierung und Auswertung der Testworten.

Diagnose

Diagnose spielt eine wichtige Rolle im geseamten Lebenzyklus eines Systems. Der Forschungsschwerpunkt liegt hier auf eingebetteten Diagnosverfahren, die im Rahmen des Herstellungstests und bei sp&aum;teren Ausfällen effizient Fehler lokalisieren können. Weiterführende Arbeiten beschäftigen zielen darauf ab, Fehler nicht nur zu lokalisieren sondern auch in permanente, transiente und intermittierende Fehler zu klassifizieren. Dies spielt insbesondere bei robusten Architekturen eine Rolle, für die z.B. transiente Fehler unkritisch sind, permanente und intermittierende Fehler aber Systemausfälle bewirken können.

Fehlertoleranter und approximativer Entwurf

Approximatives Rechnen nutzt anwendungsspezifische Fehlertoleranz, um Schaltungen und Systeme zu optimieren. Um approximative Systeme auch robust gegen Fehler zu machen, die von der Anwendung nicht toleriert werden, müssen sie fehlertolerant entworfen werden. Während Fehlertoleranz und Approximatives Rechnen bisher als orthogonale Ansätze betrachtet worden, zielen die Arbeiten der Forschungsgruppe darauf ab einheitliche Ansätze für die "Approximative Fehlertoleranz" zu entwickeln.

offene Abschlussarbeiten
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Gruppenleitung

Sybille Hellebrand

Datentechnik

Leiterin der Arbeitsgruppe

Prof.
Telefon:
(+49) 5251 60-4259
Fax:
(+49) 5251 60-4221
Büro:
P1.6.08.1 (Karte)

zur Person

Die Universität der Informationsgesellschaft