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Faster-than-at-speed Test

Kleine Verzögerungsfehler wirken sich nicht auf die Schaltungsfunktion aus, können aber Indikatoren für mögliche Frühausfälle des Systems sein. Wenn sich die Fehler nicht über hinreichend lange Pfade propagieren lassen, muss der Test mit erhöhter Taktfrequenz durchgeführt werden. Dadurch wird jedoch die Auswertung der Testantworten erschwert, da an den Endpunkten von langen Pfaden, die Ergebnisse noch nicht eingeschwungen sind. Die Arbeiten konzentrieren sich hier auf Methoden zur Auswahl optimaler Frequenzen und auf die Komptaktierung und Auswertung der Testworten.

Veröffentlichen zum diesem Forschungsgebiet


  • X-tolerante Prüfzellengruppierung für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz
    2017
    29. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ'17). Lübeck, 5. - 7. März 2017
  • X Marks the Spot: Scan-Flip-Flop Clustering for Faster-than-at-Speed Test
    2016
    Proceedings of 25th IEEE Asian Test Symposium (ATS), Hiroshima, Japan. November 2016, pp 1-6
  • Optimized Selection of Frequencies for Faster-than-at-Speed Test
    2015
    Proceedings Asian Test Symposium, Mumbai, India, Nov. 2015
  • Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler
    2015
    27. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ'15), Bad Urach, 1. - 3. März 2015
  • FAST-BIST: Faster-than-At-Speed BIST Targeting Hidden Delay Defects
    2014
    Proceedings IEEE International Test Conference (ITC'14), Seattle, Washington USA, October 21-23, 2014
  • Design-for-FAST: Supporting X-tolerant Compaction during Faster-than-at-Speed Test
    2017
    20th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Dresden, Germany
  • offene Abschlussarbeiten
    • Zurzeit gibt es keine ausgeschriebenen Abschlussarbeiten. Bitte wenden Sie sich an unsere Mitarbeiter, wenn Sie interesse an einer Abschlussarbeit haben!
    Gruppenleitung

    Sybille Hellebrand

    Datentechnik

    Leiterin der Arbeitsgruppe

    Prof.
    Telefon:
    (+49) 5251 60-4259
    Fax:
    (+49) 5251 60-4221
    Büro:
    P1.6.08.1 (Karte)

    zur Person

    Die Universität der Informationsgesellschaft