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Algorithms and Tools Test and Diagnosis for Systems on Chip (E, CE, ESE)

wird nicht im aktuellen Semster (WS 17/18) angeboten

Beschreibung

Die Lehrveranstaltung befasst sich mit aktuellen Ansätzen zum Test und zur Diagnose von integrierten Systemen. Der Schwerpunkt liegt dabei auf Algorithmen und Werkzeugen zur rechnergestützten Vorbereitung und Durchführung von Test und Diagnose.

Beispielhafte Inhalte

  • Spezielle Verfahren für den eingebauten Selbsttest und für den eingebetteten Test
  • Eingebaute Diagnose
  • Test robuster und selbstadaptiver Systeme
  • Adaptives Testen

Prüfung

Seminar

Voraussetzungen

  • VLSI Testing
  • (Introduction to algorithms)

Modulzugehörigkeit 

Computer Engineering:

  • Wahlpflichtmodul: Algorithms and Tools Test and Diagnosis for Systems on Chip
  • Vertiefungsgebiete: Embedded Systems, Nano/Microelectronics

Elektrotechnik (Master): Mikroelektronik

Electrical Systems Engineering (Master): Signal and Information Processing

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offene Abschlussarbeiten
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Gruppenleitung

Sybille Hellebrand

Datentechnik

Leiterin der Arbeitsgruppe

Prof.
Telefon:
(+49) 5251 60-4259
Fax:
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Büro:
P1.6.08.1 (Karte)

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