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Qualitätssicherung mikroelektronischer Systeme (E, CE)

wird nicht im aktuellen Semster (WS 17/18) angeboten

Beschreibung

Um einen fehlerfreien und zuverlässigen Betrieb von mikroelektronischen Systemen zu gewährleisten, müssen während des gesamten Lebenszyklus Maßnahmen zur Qualitätssicherung getroffen werden:

  • Verifikation bzw. Validierung: Nachweis, dass der Entwurf der Spezifikation entspricht
  • Produktionstest: Aussortieren fehlerhafter Chips nach der Produktion
  • Wartungstest: Überprüfen auf neue Defekte (z.B. aufgrund von Materialalterung)
  • Überwachung während des Betriebs: Erkennen von Störungen (z.B. durch radioaktive Strahlung)
  • Fehlertoleranz: Sicherstellen eines fehlerfreien Betriebs trotz Störungen

Die Vorlesung gibt einen Überblick über diese Bereiche und zeigt jeweils grundlegende Methoden und Techniken auf.

Literatur

  • D. K. Pradhan: „Fault-Tolerant Computer System Design“, Prentice Hall, 1996
  • I. Koren and C. Mani Krishna: „Fault-Tolerant Systems“, Morgan Kaufmann Publishers, 2007
  • S. K. Shukla, R. I. Bahar: „Nano, Quantum and Molecular Computing - Implications to High Level Design and Validation", Kluwer Academic Publishers, 2004
  • W. K. Lam: „Hardware Design Verification“, Prentice Hall, 2005, ISBN 978-0131433472
  • T. Kropf: „Introduction to Formal Hardware Verification", Springer, 1999, ISBN 978-3-540-65445-2

Prüfung

mündliche Prüfung, Termin nach Absprache

Voraussetzungen

  • Grundlagen der technischen Informatik
  • Grundlagen der Rechnerarchitektur

Modulzugehörigkeit

Computer Engineering (Bachelor): Mikrosystemtechnik

Elektrotechnik (Bachelor): Wahlpficht Elektrotechnik I, Wahlpflicht Elektrotechnik II

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offene Abschlussarbeiten
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Gruppenleitung

Sybille Hellebrand

Datentechnik

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