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Test hochintegrierter Schaltungen (E, CE, ESE)

wird nicht im aktuellen Semster (SS 2017) angeboten

Beschreibung

Die Vorlesung behandelt systematische Verfahren zur Erkennung von Hardware-Defekten in mikroelektronischen Schaltungen. Es werden sowohl Algorithmen zur Erzeugung und Auswertung von Testdaten als auch Hardwarestrukturen zur Verbesserung der Testbarkeit und für den eingebauten Selbsttest vorgestellt.

 Inhalt

  • Fehlermodelle
  • Testbarkeitsmaße und Maßnahmen zur Verbesserung der Testbarkeit
  • Logik- und Fehlersimulation
  • Algorithmen zur Testmustererzeugung
  • Selbsttest, insbesondere Testdatenkompression und Testantwortkompaktierung
  • Speichertest
  • ...

Literatur

  • Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal: „Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits“, Boston, Dordrecht, London: Kluwer Academic Publishers, 2000
  • Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen: „VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability“, Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon, ISBN: 0123705975

Prüfung 

mündliche Prüfung, Termin nach Absprache

Voraussetzungen

  • Grundlagen der Technischen Informatik

Modulzugehörigkeit

Computer Engineering (Master):
  • Wahlpflichtmodul: Test hochintegrierter Schaltungen
  • Vertiefungsgebiete: Embedded Systems, Nano/Microelectronics
Elektrotechnik (Master): Mikroelektronik
 
Electrical Systems Engineering (Master): Electronics and Devices
 
 

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Sybille Hellebrand

Datentechnik

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