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X-Tolerante Musterauswahl für den Hochgeschwindigkeitstest

Studierender:

PDF-Version der Beschreibung

Der Hochgeschwindigkeitstest (engl. Faster-than-at-Speed Test, FAST) stellt eine Möglichkeit dar, kleine Verzögerungsfehler zu erkennen, welche auf einen frühzeitigen Systemausfall hinweisen können. Bei FAST wird die zu testende Schaltung übertaktet, was dazu führt, dass während der Simulation eine erhöhte Anzahl an unbekannten Logikwerten (X-Werte) an den Schaltungsausgängen erzeugt wird, da nicht alle Pfade ihre Berechnung zum jeweiligen Beobachtungszeitpunkt abgeschlossen haben. X-Werte stellen ein Problem für die Testantwortkompaktierung dar.

Eine Möglichkeit, die Menge an X-Werten zu reduzieren besteht darin, gezielt Testmuster zur Fehlererkennung auszuwählen, welche beim gegebenen Beobachtungszeitpunkt nur wenige X-Werte produzieren. Dazu gibt es bereits Verfahren, welche auf Greedy- und genetischen Algorithmen basieren.

Aufgabenstellung:

Im Rahmen dieser Arbeit soll das gegebene Verfahren erweitert werden, um die Reduktion an X-Werten weiter zu optimieren. Dazu können beispielsweise „essentielle“ Testmuster gesucht werden, welche eine hohe Anzahl an X-Werten produzieren, um diese durch neue Testmuster, optimiert für FAST, zu ersetzen. Für eine Bachelorarbeit reicht ein einfaches Verfahren (z. B. n-detect) aus, für eine Masterarbeit ist eine genauere Analyse dieser Testmuster erforderlich, um etwa mit Hilfe von Rahmenbedingungen das ATPG-Werkzeug zu lenken.

Teilaspekte:

  • Einarbeiten in den Stand der Technik des Hochgeschwindigkeitstests
  • Finden von essentiellen Testmustern, welche ersetzt werden müssen
  • Erzeugen von neuen Testmustern mit einem kommerziellen Werkzeug
  • Evaluieren des Verfahrens durch Simulationen

Voraussetzungen:

  • Interesse an der Mitarbeit an einem aktuellen Forschungsthema
  • Kenntnisse in C++
  • MA: Bestandene Vorlesung „Test hochintegrierter Schaltungen“ und „Introduction to Algorithms“ (Nur MA ESE)
  • BA: Bestandene Vorlesung „Introduction to Algorithms“ (Nur BA ET), empfohlen wird „Qualitätssicherung mikroelektronischer Systeme“

Literatur:

  • S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. A. Kochte, C. Liu und H.-J. Wunderlich, „FAST-BIST: Faster-than-At-Speed BIST Targeting Hidden Delay Defects“. Proceedings of the 2014 IEEE International Test Conference (ITC). Seattle, USA. Oktober 2014, pp. 1-8
  • M. Kampmann, M. A. Kochte, E. Schneider, T. Indlekofer, S. Hellebrand und H.-J. Wunderlich, „Optimized Selection of Frequencies for Faster-than-at-Speed Test“. Proceedings of 24th IEEE Asian Test Symposium (ATS). Mumbai, Indien. November 2015, pp. 109-114

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Gruppenleitung

Sybille Hellebrand

Datentechnik

Leiterin der Arbeitsgruppe

Prof.
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