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FPGA-Board

Die Arbeitsgruppe Datentechnik arbeitet schwerpunktmäßig an Methoden und Werkzeugen zur Unterstützung von Test und Diagnose integrierter Systeme sowie an Verfahren für den fehlertoleranten Entwurf und den Nachweis von Fehlertoleranzeigenschaften. Bei heutigen "Nanochips" führen extreme Parameterschwankungen und eine erhöhte Störanfälligkeit gegenüber äußeren Störeinflüssen dazu, dass der Anteil der korrekten Chips an allen gefertigten Chips (Ausbeute) kontinuierlich abnimmt. Um diese Entwicklung abzumindern, werden einerseits innovative integrierte Diagnoseverfahren benötigt, die möglichst schnell Produktionsprobleme identifizieren können. Andererseits muss ein robuster Chipentwurf Defekte und Störungen in gewissem Umfang tolerieren können. Dadurch ergeben sich aber wieder besondere Herausforderungen an die Testverfahren, die zum Aussortieren nicht funktionsfähiger Chips benötigt werden.

Neue Stellenausschreibung Wissenschaftliche Mitarbeiterin / Wissenschaftlichen Mitarbeiter

Das Fachgebiet Datentechnik sucht ab sofort Verstärkung für unser Team von wissenschaftlichen Mitarbeitern/Mitarbeiterinnen! Nähere Informationen finden Sie hier.

 

Neuigkeiten

Abschlussvorträge

Am Dienstag, den 13. Juni um 14:00 Uhr finden die Abschlussvorträge der beiden Masterstudenten Mohammad Urf Maaz and Sunil Kumar Veerappa in unserem Seminarraum P1.6.17.1 statt. 

Die Themen der Abschlussvorträge sind:

- Comparison and Development of X-Tolerant Compaction Schemes for Faster-than-At-Speed Test
(Mohammad Urf Maaz)

- Developing and Analyzing a Reconfigurable X-Canceling MISR for Faster-than-At-Speed Test
(Sunil Kumar Veerappa)

Alle Interessierten sind herzlich zu den Vorträgen eingeladen.

Best Paper Award an Matthias Kampmann und Sybille Hellebrand verliehen

Auf der IEEE DDECS 2017 in Dresden wurden Matthias Kampmann und Sybille Hellebrand der Best Paper Award im Bereich Test für ihre herausragende Einreichung verliehen. Ausgezeichnet wurde der Beitrag "Design-for-FAST: Supporting X-tolerant Compaction during Faster-than-at-Speed Test".

 

Konferenz-Beitrag akzeptiert

Matthias Kampmann und Sybille Hellebrand haben erfolgreich ihren Beitrag

Design for FAST: Supporting X-tolerant Compaction during Faster-than-at-Speed Test

beim "20th IEEE International Symposium on Design & Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)" eingereicht. Matthias Kampmann wird den Vortrag im April in Dresden halten.

offene Abschlussarbeiten
  • Zurzeit gibt es keine ausgeschriebenen Abschlussarbeiten. Bitte wenden Sie sich an unsere Mitarbeiter, wenn Sie interesse an einer Abschlussarbeit haben!
Gruppenleitung

Sybille Hellebrand

Datentechnik

Leiterin der Arbeitsgruppe

Prof.
Telefon:
(+49) 5251 60-4259
Fax:
(+49) 5251 60-4221
Büro:
P1.6.08.1 (Karte)

zur Person

Die Universität der Informationsgesellschaft