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FPGA-Board

Die Arbeitsgruppe Datentechnik arbeitet schwerpunktmäßig an Methoden und Werkzeugen zur Unterstützung von Test und Diagnose integrierter Systeme sowie an Verfahren für den fehlertoleranten Entwurf und den Nachweis von Fehlertoleranzeigenschaften. Bei heutigen "Nanochips" führen extreme Parameterschwankungen und eine erhöhte Störanfälligkeit gegenüber äußeren Störeinflüssen dazu, dass der Anteil der korrekten Chips an allen gefertigten Chips (Ausbeute) kontinuierlich abnimmt. Um diese Entwicklung abzumindern, werden einerseits innovative integrierte Diagnoseverfahren benötigt, die möglichst schnell Produktionsprobleme identifizieren können. Andererseits muss ein robuster Chipentwurf Defekte und Störungen in gewissem Umfang tolerieren können. Dadurch ergeben sich aber wieder besondere Herausforderungen an die Testverfahren, die zum Aussortieren nicht funktionsfähiger Chips benötigt werden.

Neue Stellenausschreibung Wissenschaftliche Mitarbeiterin / Wissenschaftlichen Mitarbeiter

Das Fachgebiet Datentechnik sucht ab sofort Verstärkung für unser Team von wissenschaftlichen Mitarbeitern/Mitarbeiterinnen! Nähere Informationen finden Sie hier.

 

Neuigkeiten

Antrittsvortrag von Manuel Boschmann

Manuel Boschmann hält am Mittwoch, den 31.01.2018 um 13:30 Uhr den Antrittsvortrag seiner Bachelorarbeit mit dem Thema "Implementierung und Analyse eines rekonfigurierbaren X-canceling MISR".

Der Vortrag findet in unserem Seminarraum (P1.6.17.1) statt.

Alle Interessierten sind hierzu herzlich eingeladen!

Vortrag im Forschungsseminar

Am Donnerstag, den 14.12. wird Thomas Mertens den Abschlussvortrag seiner Bachelorarbeit mit dem Titel Experimenteller Vergleich von Kompaktierungsstrategien für den eingebetteten Hochgeschwindigkeitstest halten. Der Vortrag findet um 9:00 Uhr (Achtung: Geänderte Zeit!) in unserem Seminarraum (P1.6.17.1) statt. Alle Interessierten sind hierzu herzlich eingeladen!

Zeitschriftenartikelbeitrag akzeptiert

Der Beitrag "Design for Small Delay Test - A Simulation Study" von Matthias Kampmann und Sybille Hellebrand wurde zur Aufnahme in die Zeitschrift "Microelectronics Reliability" von Elsevier akzeptiert. In ihrem Beitrag untersuchen die Autoren weiter die zuvor mit einem Best Paper Award ausgezeichnete Veröffentlichung "Design-for-FAST: Supporting X-tolerant Compaction during Faster-than-at-Speed Test". Eine ausführliche Simulationsstudie mit neu synthetisierten Schaltungen zeigt, wie sich die zuvor entwickelte "Design-for-FAST" Methodik in einen industriellen Syntheseablauf einbringen lässt und welche Vor- bzw. Nachteile dieses Verfahren gegenüber einem herkömmlichen Syntheseprozess hat.

Neuer Mitarbeiter im Fachgebiet Datentechnik

Mohammad Urf Maaz verstärkt seit Mitte September 2017 als neuer Mitarbeiter das Fachgebiet Datentechnik.

Er hat an der Universität Paderborn „Electrical System Engineering“ studiert und bereits während seiner Masterarbeit Erfahrungen im Fachgebiet gesammelt. Im Rahmen des DFG-Projekts FAST (Faster-than-At-Speed Test) setzt er jetzt seine Arbeiten zu X-toleranten Kompaktierungsverfahren als Doktorand fort.

Gastvortrag in unserem Forschungsseminar

Am Dienstag, den 11.7. wird Prof. Wenjing Rao von der University of Illinois, Chicago (UIC), USA, einen Gastvortrag bei uns im Fachgebiet halten. Der Titel des Vortrags lautet

Guaranteed k-Fault Tolerance in Scalable Systems

Der Vortrag findet um 10 Uhr im Raum P1.3.01 statt. Alle Interessierten sind hierzu herzlich eingeladen!

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Gruppenleitung

Sybille Hellebrand

Datentechnik

Leiterin der Arbeitsgruppe

Prof.
Telefon:
(+49) 5251 60-4259
Fax:
(+49) 5251 60-4221
Büro:
P1.6.08.1 (Karte)

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