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M. Sc. Matthias Kampmann

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Konferenzbeiträge

  • Design-for-FAST: Supporting X-tolerant Compaction during Faster-than-at-Speed Test
    2017 M. Kampmann, S. Hellebrand
    20th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Dresden, Germany
  • X Marks the Spot: Scan-Flip-Flop Clustering for Faster-than-at-Speed Test
    2016 S. Hellebrand, M. Kampmann
    Proceedings of 25th IEEE Asian Test Symposium (ATS), Hiroshima, Japan. November 2016, pp 1-6
  • Optimized Selection of Frequencies for Faster-than-at-Speed Test
    2015 M. Kampmann, M. Kochte, E. Scheider, T. Indlekofer, S. Hellebrand, H. Wunderlich
    Proceedings Asian Test Symposium, Mumbai, India, Nov. 2015
  • FAST-BIST: Faster-than-At-Speed BIST Targeting Hidden Delay Defects
    2014 S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H. Wunderlich
    Proceedings IEEE International Test Conference (ITC'14), Seattle, Washington USA, October 21-23, 2014

Workshop Beiträge

  • X-tolerante Prüfzellengruppierung für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz
    2017 M. Kampmann, S. Hellebrand
    29. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ'17). Lübeck, 5. - 7. März 2017
  • Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler
    2015 S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H. Wunderlich
    27. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ'15), Bad Urach, 1. - 3. März 2015

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Datentechnik

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