Achtung:

Sie haben Javascript deaktiviert!
Sie haben versucht eine Funktion zu nutzen, die nur mit Javascript möglich ist. Um sämtliche Funktionalitäten unserer Internetseite zu nutzen, aktivieren Sie bitte Javascript in Ihrem Browser.

FPGA-Board

Die Arbeitsgruppe Datentechnik arbeitet schwerpunktmäßig an Methoden und Werkzeugen zur Unterstützung von Test und Diagnose integrierter Systeme sowie an Verfahren für den fehlertoleranten Entwurf und den Nachweis von Fehlertoleranzeigenschaften. Bei heutigen "Nanochips" führen extreme Parameterschwankungen und eine erhöhte Störanfälligkeit gegenüber äußeren Störeinflüssen dazu, dass der Anteil der korrekten Chips an allen gefertigten Chips (Ausbeute) kontinuierlich abnimmt. Um diese Entwicklung abzumindern, werden einerseits innovative integrierte Diagnoseverfahren benötigt, die möglichst schnell Produktionsprobleme identifizieren können. Andererseits muss ein robuster Chipentwurf Defekte und Störungen in gewissem Umfang tolerieren können. Dadurch ergeben sich aber wieder besondere Herausforderungen an die Testverfahren, die zum Aussortieren nicht funktionsfähiger Chips benötigt werden.

Neue Stellenausschreibung Wissenschaftliche Mitarbeiterin / Wissenschaftlichen Mitarbeiter

Das Fachgebiet Datentechnik sucht ab sofort Verstärkung für unser Team von wissenschaftlichen Mitarbeitern/Mitarbeiterinnen! Nähere Informationen finden Sie hier.

 

Zeitschriftenbeitrag akzeptiert

Veröffentlicht von Matthias Kampmann (matkam) am 12.7.2018
Startseite >>

Matthias Kampmann und Sybille Hellebrand haben in Kooperation mit Michael Kochte, Chang Liu, Eric Schneider und Hans-Joachim Wunderlich von der Universität Stuttgart erfolgreich den Beitrag Built-in Test for Hidden Delay Faults beim IEEE-Journal "IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems" eingereicht. Der Beitrag wird in Kürze veröffentlicht.

Abstract:

Marginal hardware introduces severe reliability threats throughout the life cycle of a system. Although marginalities may not affect the functionality of a circuit immediately after manufacturing, they can degrade into hard failures and must be screened out during manufacturing test to prevent early life failures. Furthermore, their evolution in the field must be proactively monitored by periodic tests before actual failures occur. In recent years small delay faults have gained increasing attention as possible indicators of marginal hardware. However, small delay faults on short paths may be undetectable even with advanced timing aware ATPG. Faster-than-at-speed test (FAST) can detect such hidden delay faults, but so far FAST has mainly been restricted to manufacturing test.

This paper presents a fully autonomous built-in self-test (BIST) approach for FAST, which supports in-field testing by appropriate strategies for test generation and response compaction. In particular, the required test frequencies for hidden delay fault detection are selected, such that hardware overhead and test time are minimized. Furthermore, test response compaction handles the large number of unknowns (X-values) on long paths by storing intermediate MISR-signatures in a small on-chip memory for later analysis using X-canceling transformations. A comprehensive experimental study demonstrates the effectiveness of the presented approach. In particular, the impact of the considered fault size is studied in detail.

Zuletzt geändert am: 12.7.2018 um 14:58

Zurück zur Übersicht
offene Abschlussarbeiten
  • Zurzeit gibt es keine ausgeschriebenen Abschlussarbeiten. Bitte wenden Sie sich an unsere Mitarbeiter, wenn Sie interesse an einer Abschlussarbeit haben!
Gruppenleitung

Sybille Hellebrand

Datentechnik

Leiterin der Arbeitsgruppe

Prof.
Telefon:
(+49) 5251 60-4259
Fax:
(+49) 5251 60-4221
Büro:
P1.6.08.1 (Karte)

zur Person

Die Universität der Informationsgesellschaft